1.基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变动的影响（在实际运用中，低碳钢磁性的变动可以认为是轻微的），为了防止热处理和冷加工因素的影响，应运用与试件基体金属具备相似性质的标准片对涂层镀层测厚仪实行校准；亦可用待涂覆试件实行校准。
2.基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材质成分及热处理方式相关。运用与试件基体金属具备相同性质的标准片对仪器实行校准。
3.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
4.边缘效应
涂层镀层测厚仪对试件外表面形状的陡变敏感。因而在接近试件边缘或内转角处实行测量是不牢靠的。
5.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少显著地增大。因而，在弯曲试件的外表面上测量是不靠谱的。
6.试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因而在这些试件上不能测出正确的数据。
7.表面糙粗糙度
基体金属和覆盖层的外表面毛糙程度对测量有影响。毛糙程度增大，影响增大。毛糙外表面会致使系统误差和偶尔误差，每次测量时，在不同地方上应添加测量的次数，以克制这种偶尔误差。假如基体金属毛糙，还必需在未涂覆的毛糙度相似的基体金属试件上取几个位置校正涂层镀层测厚仪的零点；或用对基体金属没有侵蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校正涂层测厚仪的零点。
8.磁场
四周各种电气设施所发生的强磁场，会重大地预扰磁性法测厚工作。
9.附着物质
涂层镀层测厚仪对那些阻碍测头与覆盖层外表面严密接触的附着物质敏感，因而，必需消除附着物质，以保障仪器测头和被测试件外表面直接接触。
10.测头压力和侧头取向
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因而，要维持压力恒定。测头的安放方式对测量有影响。涂层镀层测厚仪在测量中，该当使测头与试样外表面维持垂直。