1、薄涂层的测量准que度和厚度没有任何关系，是一个常数，厚涂层的测量准que度是一个近似恒定的分数和厚度的乘积。

2、基体磁性的变化会影响测量的数据，所以涂镀层测厚仪校准时要采用材质和试样基体一样的校准；

采用待镀产品做基体实行仪器校准，以防止不一样的个体或局部热处理和冷加工影响测量数据。

3、涂镀层测厚仪在靠近试样边缘或内转角处的测量数据往往是不牢靠的，这种效应或许从不持续处向前延续约20mm。
4、涂镀层测厚仪测量曲面时，数据随曲率半径的减小而开始显著。