一、仪器性能与校准

1. 选择合适的仪器型号

• 根据被测材料的类型（如金属、塑料、陶瓷等）、厚度范围（如薄板、厚壁件）及表面状态（光滑或粗糙），选择适配的超声波测厚仪。例如，测量金属薄板时，需选用高频探头（如 5MHz 以上）以提高分辨率；测量厚壁铸件时，可选用低频探头（如 1MHz）以增强穿透力。

• 注意仪器的测量精度指标（如 ±0.1% 或 ±0.1mm），确保其满足测量需求。

2. 定期校准与维护

• 使用前需用标准试块（如已知厚度的校准块）进行校准，确保仪器显示值与实际厚度一致。校准试块的材质、表面粗糙度应尽量接近被测物体。

• 定期检查探头线缆是否破损、插头接触是否良好，避免因硬件故障导致测量误差。

二、被测物体的特性分析

1. 材料声速的准确性

• 超声波在不同材料中的传播速度（声速）差异显著，需准确输入被测材料的声速值。若材料未知，可通过测量已知厚度的试样或查阅材料声速表（如钢约为 5900m/s，铝约为 6300m/s）进行设定。

• 对于多层复合结构或非均匀材料（如铸件、复合材料），需考虑声速在不同层间的变化，必要时进行分层测量或采用特殊算法修正。

2. 表面状态与耦合效果

• 表面粗糙度：被测物体表面若粗糙（如锈蚀、氧化皮），会导致超声波散射，影响回波信号强度。需提前清理表面（如打磨、抛光），使表面粗糙度 Ra≤6.3μm。

• 耦合剂选择：耦合剂用于排除探头与被测表面之间的空气（空气会大幅衰减超声波），常用耦合剂有甘油、机油、水玻璃等。需根据环境温度和表面状态选择：低温环境可用甘油，粗糙表面可用粘度较高的耦合剂（如黄油），确保耦合层薄且均匀。

3. 内部结构与缺陷

• 被测物体若存在内部缺陷（如裂纹、气孔、夹层），会干扰超声波传播路径，导致测量值异常。需通过多次测量（不同位置）或结合其他检测手段（如超声探伤）判断数据有效性。

• 对于曲面物体（如管道、容器），需注意探头与曲面的接触面积，尽量使用曲率匹配的探头（如小尺寸探头或曲面专用探头），避免因声束扩散导致测量偏差。

三、测量操作规范

1. 探头放置与压力控制

• 测量时需将探头垂直且稳定地压在被测表面，确保声束垂直入射材料，避免因角度偏差导致声程延长或回波信号减弱。

• 施加适当压力（通常由仪器或探头设计决定），压力过小可能导致耦合不良，过大可能损坏探头或被测表面。

2. 测量点选择与多次采样

• 避免在焊缝、拐角、边缘等几何突变位置测量，这些区域可能存在应力集中或材料不均匀性，影响测量精度。

• 对同一位置进行多次测量（建议 3 次以上），取平均值以减少偶然误差。若数据波动较大，需检查表面状态或是否存在内部缺陷。

3. 声程与临界厚度的考虑

• 超声波测厚存在 “盲区"（近表面无法测量的区域），通常为几毫米，需确认被测物体厚度大于盲区。

• 对于极薄材料（如厚度接近探头标称最小测量值），需选用专门的薄涂层探头或采用多次回波法（测量多次反射信号）提高精度。

四、环境因素控制

1. 温度影响

• 材料声速随温度变化而改变（如金属材料声速随温度升高而降低），高温环境下需使用高温探头（如耐高温耦合剂或水冷探头），并根据温度修正声速值。

• 避免在剧烈温度变化的环境中测量（如刚加工后的工件），需待温度稳定后再进行操作。

2. 电磁干扰与振动

• 远离强电磁源（如电机、变频器），避免电磁干扰影响仪器电路和信号采集。

• 被测物体若存在振动（如运行中的管道），需采取固定措施或等待振动停止后测量，防止因位移导致数据波动。

五、数据记录与异常处理

1. 详细记录测量条件

• 记录测量时的仪器型号、探头类型、声速设置、耦合剂种类、环境温度等参数，以便追溯和复现。

2. 异常数据的分析

• 材料声速是否设置正确；

• 表面耦合是否良好，是否有漏涂耦合剂或表面未清理；

• 探头是否磨损或损坏（如晶片老化导致灵敏度下降）；

• 被测物体是否存在内部缺陷或结构变化。

• 若测量值与理论值差异较大，需依次排查以下因素：

总结