涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层，亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪，因此，涂层测厚仪，通常也称为表面涂层测厚仪。
 

　　表面涂层测厚仪根据测量原理一般有五种类型，接下来就让我来分别的了解一下这五种类型吧。
 

　　1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。
 

　　2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
 

　　3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵\测量精度也不高。
 

　　4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。
 

　　5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用普遍的是第1\2两种方法。
 

　　常规表面涂层测厚仪的原理
 

　　对材料表面?；?、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和标准中称为覆层(coating)。
 

　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
 

　　覆层厚度的测量方法主要有:楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
 

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
 

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
 

　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。